仿真超材料與實(shí)驗(yàn)結(jié)果低頻相符，高頻相差較大的問題

我是用CST計(jì)算超材料的。我做了一個(gè)很簡單的超材料陣列，用時(shí)域求解器仿真。所得結(jié)果與我實(shí)驗(yàn)所測(cè)得結(jié)果低頻符合的蠻好，但CST仿真的高頻就出現(xiàn)了問題，請(qǐng)大神看看，存在什么問題？下面兩幅圖對(duì)應(yīng)的是不同的偏振方向。附件是我的CST文件。請(qǐng)輸入描述
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我比較好奇的是你實(shí)驗(yàn)室里的那臺(tái)設(shè)備型號(hào)?和測(cè)試環(huán)境?

用的是太赫茲時(shí)域光譜啊。自己搭的光學(xué)平臺(tái)。測(cè)試是在干燥空氣下。

照射時(shí)受測(cè)物周邊立體六面的空間里反射、折射條件有受控嗎? 或者說這個(gè)立體六面的空間里的參數(shù)你能轉(zhuǎn)化到仿真軟件的邊界條件里面去嗎?

實(shí)驗(yàn)就是用光電導(dǎo)天線產(chǎn)生的太赫茲波經(jīng)過離軸拋物面鏡垂直入射到樣品上，再由離軸拋物面鏡聚焦到探測(cè)器上，得到透射譜。樣品，太赫茲波的發(fā)射以及探測(cè)都在密閉的六面體里，沒有只有在樣品上才有透射和反射。關(guān)于超材料的文獻(xiàn)里的仿真都跟我附件里的類似。